Mehdi Vaez-İrəvani

Vikipediya, azad ensiklopediya
Naviqasiyaya keçin Axtarışa keçin

Mehdi Vaez-İrəvani — əslən İrəvan şəhərindən olan İran azərbaycanlısı elm adamı, ixtiraçı və mühəndis.[1][2]

Həyatı[redaktə | mənbəni redaktə et]

1971-1975-ci illərdə İranın paytaxtı Tehran şəhərindəki Alborz Ali Məktəbində təhsil almışdır. Mehdi Vaez-İrəvani doktorantura təhsilini London Universitet Kollecində almış və KLA Tenkora qoşulmamışdan əvvəl Roçester Texnologiya İnistitutunda dərs deməyə başlamışdır.

Onun optika, optikal mühəndislik və bununla əlaqəli bir çox sahələrdə çox saylı patentləri və nəşr edilmiş məqalələri mövcuddur.

Seçilmiş biblioqrafiya[redaktə | mənbəni redaktə et]

  • Vaez-Iravani, Mehdi, redaktor Scanning Probe Microscopies III (Proceedings Volume). Scanning Probe Microscopies III. 2384. Bellingham, WA, USA: International Society for Optics and Photonics. 30 March 1995. ISBN 978-0-8194-1731-2. OCLC 57388570.
  • Vaez-Iravani, Mehdi; Toledo-Crow, Ricardo; Ade, Harald; və b. Near-field microscopy of thin films: application to polymeric structures. Scanning Probe Microscopies III. Proceedings. 2384. Bellingham, WA, USA: International Society for Optics and Photonics (SPIE). 30 Mar 1995. səh. 166. doi:10.1117/12.205926. ISSN 0361-0748. OCLC 201621977.
  • Toledo-Crow, Ricardo; Smith, Bruce W.; Rogers, Jon K.; Vaez-Iravani, Mehdi. Bennett, Marylyn H (redaktor ). Near-field optical microscopy characterization of IC metrology (Proceedings Paper). Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VIII. Proceedings. 2196. Bellingham, WA, USA: International Society for Optics and Photonics (SPIE). 1 May 1994. səh. 62. doi:10.1117/12.174165. ISSN 0361-0748. OCLC 703607580.
  • Toledo-Crow, Ricardo; Vaez-Iravani, Mehdi; Smith, Bruce W.; Summa, Joseph R. Postek, Michael T. (redaktor ). Characterization of atomic force microscopy and electrical probing techniques for IC metrology. Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control VII. Proceedings. 1926. Bellingham, WA, USA: International Society for Optics and Photonics (SPIE). 4 August 1993. 357–368. doi:10.1117/12.148946. ISSN 0361-0748. OCLC 563909391.
  • Vaez-Iravani, Mehdi; Nonnenmacher, M.; Wickramasinghe, H. Kumar. "Detection of high- and low-frequency vibrations using a feedback-stabilized differential fiber optic interferometer". Optical Engineering. Bellingham, WA, USA: International Society for Optics and Photonics (SPIE). 32 (8). 1 August 1993: 1879–1882. doi:10.1117/12.143338. ISSN 0091-3286. OCLC 196617649.

Həmçinin bax[redaktə | mənbəni redaktə et]

İstinadlar[redaktə | mənbəni redaktə et]

  1. ↑ Fillard, J. P. Near field optics and nanoscopy. World Scientific. January 1996. 359–362. ISBN 978-981-02-2349-6. İstifadə tarixi: 2 April 2011.
  2. ↑ Ducloy, M.; Bloch, Daniel. Quantum optics of confined systems. Springer. 1996. səh. 311. ISBN 978-0-7923-3974-8. İstifadə tarixi: 2 April 2011.
Mənbə — "https://az.wikipedia.org/w/index.php?title=Mehdi_Vaez-İrəvani&oldid=6181289"